Toggle navigation
首页
CCRC
安全咨询
芯片安全测试咨询
EMVCo/CC(EAL)安全测试及咨询
国家信息安全产品(EAL4+)测评咨询
智能汽车安全测试及咨询
IoT固件安全检测服务
测评服务
商用密码安全性评估
TEE安全测试咨询
交通一卡通产品测评服务
CCRC智能家居产品安全测评
安全设备总览
侧信道测试平台
电磁注入测试平台
激光注入测试平台
JTAG测试平台
智能毛刺测试平台
智能门锁（小黑盒）可控电磁注入测试平台
嵌入式软件测试平台
实验室解决方案
芯片安全检测实验室
物联网安全检测实验室
智能汽车安全检测实验室
新闻动态
论文头条
江西子公司
领导关怀
关于我们
联系我们
资质荣誉
企业资质
企业荣誉
合作伙伴
诚聘英才
搜索
关键词 Top 15
side-channel attacks
(13)
Fault injection
(10)
Side-channel analysis
(9)
side-channel attack
(8)
侧信道攻击
(8)
侧信道分析
(7)
Cryptography
(5)
deep learning
(5)
AES
(5)
FPGA
(5)
machine learning
(4)
Side channels
(3)
DPA
(3)
Hardware Security
(3)
cryptanalysis
(3)
清除筛选
作者 Top 15
Elisabeth Oswald
(5)
grid.417971.d, 0000 0001 2198 7527, Department of Computer Science and Technology, Indian Institute of Technology Bombay, Mumbai, India
(4)
Sych D
(4)
Babukhin D
(4)
Seokhie Hong
(4)
汪东升
(3)
Barenghi Alessandro
(3)
Pelosi Gerardo
(3)
邱朋飞
(3)
王春露
(3)
Jean-Luc Danger
(3)
Werner Schindler
(3)
龚征
(3)
赵毅强
(2)
Matthieu Rivain
(2)
来源 Top 15
IACR Cryptology ePrint Archive
(21)
电子与信息学报
(9)
Journal of Physics: Conference Series
(8)
密码学报(中英文)
(7)
Electronics
(6)
Journal of Cryptographic Engineering
(6)
Applied Sciences
(5)
IEEE ACCESS
(5)
CoRR
(5)
ETRI Journal
(4)
Scientific Reports
(3)
网络空间安全科学学报
(3)
Journal of the Korea Institute of Information Security & Cryptology
(3)
International Journal of Advanced Computer Science and Applications (IJACSA)
(2)
Cryptography
(2)
清除筛选
论文列表
共
0
篇
·
关键词：
fault-line-selection
排序
发表时间：新 → 旧
发表时间：旧 → 新
标题：A → Z
标题：Z → A
来源：A → Z
来源：Z → A
重置
暂无论文
下载前请验证手机号
手机号
验证码
获取验证码
取消
确认并下载
官方公众号
公司座机
座机
010-60801697
联系手机
邮箱
an@dplslab.com
手机
13811552057
手机
18610501352
返回顶部
