侧信道分析攻击验证平台由我司自主研发,是完全自主知识产权的智能硬件安全攻击与测试平台,可广泛应用于物联网、智能支付、智能终端、智能家居等领域中底层硬件芯片侧信道攻击与测试。
该自动化测试平台实现了硬件系统与软件系统的协同设计与高度集成,软件界面用户友好。主体包括侧信道信号采集系统、侧信道安全性分析系统、设备核心组件(电磁采集单元、电流采单元、高级示波器等)三个部分。
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TEE错误注入测试平台主要功能针对TEE安全设备的安全芯片进行错误注入攻击,芯片的物理特性决定着很容易受激光的影响而改变运行状态,且由于激光具有高精度的物理特性,可在极短的时间内影响极小一片物理位置,从而达到精确操控芯片运行状态的目的,如果芯片在运行敏感信息(例如对机密信息加解密,或进行支付等涉及资金的重要操作时)时,正常的操作被修改,则将导致泄漏敏感信息甚至资金损失等情况发生。因此,无论黑客、测试机构或者芯片设计企业,对激光攻击的研究均异常重视。
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在密码算法运算中都会使用随机数,随机数的质量极大的影响密码算法应用中的安全性,随机数的质量需要满足以下要求:单比特频率测试、块内频次、游程测试、最长游程测试、矩阵秩、近似熵、fft、线性复杂度、重叠模板、非重叠模板、随机游走、随机游走方差、累加和、序列、通用等。
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TEE内存隔离测试系统主要用于进行TEE的内存隔离测试,是GP TEE安全测试中比较重要的测试项目。我司自主研发的TEE内存隔离测试系统,在我司实际GP TEE检测中发挥重大作用。