故障注入（Fault Injection）类测试平台
故障注入控制平台是我司在其多年攻击测试经验基础上，结合不同工艺和不同行业应用的芯片的工作特点研发而成的综合测试控制平台。
该平台可以单独作为智能毛刺攻击设备使用，既能够对外部被测试产品提供正常的时钟和电源工作信号，又能够在时钟和电源上产生精确可控的时钟毛刺信号和电压毛刺信号，支持时钟毛刺和电源毛刺组合毛刺攻击。
该平台可以输出控制信号以控制激光源和电磁源的能量和持续时间，然后配合激光源或者电磁源，形成激光攻击系统和电磁攻击系统，支持毛刺攻击和激光攻击等多维故障攻击。
该平台可广泛应用于智能卡芯片、POS机芯片、手机、机顶盒等产品及领域的故障注入攻击测试，攻击测试目标包括篡改存储器内容，翻转关键程序流程，以及破解加解密密钥。
