芯片类安全测试设备

被测硬件正常运行过程中，通过显微镜定位被攻击硬件表面某一特定区域，通过示波器等观察设备定位程序运行的某一特定时刻，注入合适能量及持续性的放射线同位素，使硬件的运行产生非预期错误，并分析由采集到的错误是否会造成硬件中敏感信息的泄露来评测信息泄露的风险。

被测硬件正常运行过程中，通过显微镜定位被攻击芯片表面某一特定区域，通过示波器等观察设备定位程序运行的某一特定时刻，分别多次注入合适大小的激光脉冲，使芯片的运行产生非预期错误，并分析由采集到的错误是否会造成芯片中敏感信息的泄露来评测信息泄露的风险。

被测硬件正常运行过程中，通过显微镜定位被攻击硬件表面某一特定区域，通过示波器等观察设备定位程序运行的某一特定时刻，注入合适大小的激光脉冲，使硬件的运行产生非预期错误，并分析由采集到的错误是否会造成硬件中敏感信息的泄露来评测信息泄露的风险。

电磁错误注入是一种有效的错误注入攻击手段，属于非侵入式攻击。其原理为在被测硬件正常运行过程中，定位被测硬件程序运行的某一特定时刻，注入合适能量的电磁脉冲，使硬件的运行产生非预期错误，并分析非预期错误是否会造成硬件中敏感信息的泄露来评测安全性能。

非接触侧信道平台是硬件设备通过ISO14443协议通信采集信息安全设备进行密码算法时的能量迹，利用密码设备运算处理时消耗的电能与密钥之间的相关性，来评测信息泄露的风险。

侧信道平台是通过硬件设备采集信息安全设备进行密码算法时的能量迹或电磁能量迹，利用密码设备运算处理时消耗的电能与密钥之间的相关性，来评测信息泄露的风险。

总体功能：在被测产品正常运算过程中，引入精确可控的毛刺信号，迫使被测产品进入攻击者模式，进而获取密钥、非法权限等敏感信息。
适用对象：集成电路/芯片、智能卡，及物联网终端类产品