多点激光注入测试设备

多点激光注入测试设备

        被测硬件正常运行过程中，通过显微镜定位被攻击芯片表面某一特定区域，通过示波器等观察设备定位程序运行的某一特定时刻，分别多次注入合适大小的激光脉冲，使芯片的运行产生非预期错误，并分析由采集到的错误是否会造成芯片中敏感信息的泄露来评测信息泄露的风险。